Anwenderseminare

  • Flammen-AAS | Anwenderseminare
    Termin:7. März 2017
    Ort:Jena/Deutschland | Analytik Jena AG
    Infos:

    Anmeldeschluss: 21.02.2017

    • Grundlagen der Flammen-AAS und -AES
    • Interferenzen und ihre Beseitigung
    • Troubleshooting, Wartungshinweise
    • Intensive Softwareschulung
    • Praktische Messungen im Applikationslabor

    Alle weiteren Informationen und Preise finden Sie in unserem Seminarplan ».


    Anmeldung

  • AOX-/EOX-Bestimmung – schnell, einfach und hoch automatisiert | Anwenderseminare
    Termin:7. März 2017
    Ort:Jena/Deutschland | Analytik Jena AG
    Infos:

    Anmeldeschluss: 21.02.2017

    • Automatisierungsvielfalt und Parameterflexibilität (AOX, SPE-AOX, EOX, POX, TOC)
    • Probenvorbereitungssysteme zur Säulen- und Schüttelmethode
    • Neue Module in der Probenvorbereitung: APU sim
    • Überblick zu relevanten Normen
    • Softwarefeatures, Tricks und vieles mehr – Erfahrungsaustausch
    • Praktisches Troubleshooting am Gerät
    • Wartungs- und Pflegehinweise zu Analysatoren und Komponenten

    Das Seminar richtet sich an Anwender des multi X® 2500.

    Wir bieten außerdem einen Softwarekurs multiWin® 5.X an.

    Alle weiteren Informationen und Preise finden Sie in unserem Seminarplan ».


    Anmeldung

  • Softwarekurs multiWin® 5.X | Anwenderseminare
    Termin:8. März 2017
    Ort:Jena/Deutschland | Analytik Jena AG
    Infos:

    Anmeldeschluss: 22.02.2017

    • Softwarephilosophie und effiziente Bedienung im Routinebetrieb
    • Methodenentwicklung
    • Kalibrierung und Datenauswertung
    • Datenmanagement
    • Tipps und Tricks im Umgang mit der Gerätesoftware
    • Erfahrungsaustausch

    Der Softwarekurs richtet sich an Anwender des multi EA® 4000, des multi EA® 5000 und des multi X® 2500.

    Alle weiteren Informationen und Preise finden Sie in unserem Seminarplan ».


    Anmeldung

  • Elementaranalyse – C, N, S, Cl in Gasen, Flüssigkeiten und Feststoffen (auch Feststoff-TOC) | Anwenderseminare
    Termin:9. März 2017
    Ort:Jena/Deutschland | Analytik Jena AG
    Infos:

    Anmeldeschluss: 23.02.2017

    • Vorstellung spezieller Applikationsstrategien: Probenbehandlung, Analyse im Ultraspurenbereich, Bestimmung von Elementgehalten im Prozentbereich, Gasanalytik, Kalibrierstrategien
    • Vorstellung spezieller Applikationen: Bestimmung des elementaren Kohlenstoffs nach Pyrolyseverfahren, Bestimmung von Chlor in Sekundärbrennstoffen, störungsfreie Bestimmung von Schwefelspuren in Gegenwart von Stickstoff (Kraftstoffe), getrennte Bestimmung des elementaren und organisch gebundenen Kohlenstoffs (DME)
    • Automatisierte TOC-/TIC-Bestimmung in Feststoffen – nichts ist unmöglich!
    • Softwarefeatures, Tricks und vieles mehr – Erfahrungsaustausch
    • Praktisches Troubleshooting an den Geräten und Modulen
    • Wartungs- und Pflegehinweise zu Analysatoren und Komponenten

    Das Seminar richtet sich an Anwender des multi EA® 4000 und des multi EA® 5000.

    Alle weiteren Informationen und Preise finden Sie in unserem Seminarplan ».


    Anmeldung

  • Grundkurs Graphitrohr-AAS | Anwenderseminare
    Termin:14. März 2017
    Ort:Jena/Deutschland | Analytik Jena AG
    Infos:

    Anmeldeschluss: 28.02.2017

    • Grundlagen der Graphitrohr-AAS, das STPF-Konzept
    • Interferenzen in der Graphitrohr-AAS und Methodenentwicklung
    • Intensive Softwareschulung
    • Praktische Messungen im Applikationslabor
    • Troubleshooting, Wartungshinweise

    Alle weiteren Informationen und Preise finden Sie in unserem Seminarplan ».


    Anmeldung

  • TOC-/TNb-Bestimmung in unterschiedlichsten Matrices | Anwenderseminare
    Termin:14. März 2017
    Ort:Jena/Deutschland | Analytik Jena AG
    Infos:

    Anmeldeschluss: 28.02.2017

      • Vergleich der Aufschlusstechniken: multi N/C® — HT- bzw. UV-Aufschluss
      • Überblick zu relevanten Normen und Richtlinien
      • Anwendung unterschiedlicher Kalibrierverfahren
      • Anwendung der NPOC-plus-Methode
      • Softwarefeatures, Tricks und vieles mehr — Erfahrungsaustausch
      • Wartungs- und Pflegehinweise, praktisches Troubleshooting

      Das Seminar richtet sich an Anwender der multi N/C®-Geräteserie.

      Alle weiteren Informationen und Preise finden Sie in unserem Seminarplan ».


      Anmeldung

    • Aufbaukurs Graphitrohr-AAS | Anwenderseminare
      Termin:15. März 2017
      Ort:Jena/Deutschland |  Analytik Jena AG
      Infos:

      Anmeldeschluss: 01.03.2017

      • Zeeman-Untergrundkorrektur in der Graphitrohrtechnik
      • Möglichkeiten des variablen Magnetfelds
      • Optimierung von Zeeman-Graphitrohrofenprogrammen bei Proben mit komplexer Matrix
      • Einsatz des variablen Magnetfelds an praktischen Beispielen
      • Troubleshooting, Wartungshinweise

      Alle weiteren Informationen und Preise finden Sie in unserem Seminarplan ».


      Anmeldung

    • Softwarekurs multiWin® 4.X | Anwenderseminare
      Termin:15. März 2017
      Ort:Jena/Deutschland | Analytik Jena AG
      Infos:

      Anmeldeschluss: 01.03.2017

      • Softwarephilosophie und effiziente Bedienung im Routinebetrieb
      • Methodenentwicklung
      • Kalibrierung und Datenauswertung
      • Datenmanagement
      • Tipps und Tricks im Umgang mit der Gerätesoftware
      • Erfahrungsaustausch

      Der Softwarekurs richtet sich an Anwender der multi N/C®-Geräteserie. 

      Alle weiteren Informationen und Preise finden Sie in unserem Seminarplan ».


      Anmeldung

    • Hydrid- und HydrEA-Technik | Anwenderseminare
      Termin:28. März 2017
      Ort:Jena/Deutschland | Analytik Jena AG
      Infos:

      Anmeldeschluss: 14.03.2017

      • Grundlagen der AAS, Hydrid- und HydrEA-Technik
      • Probenvorbereitung, Matrixeinflüsse, Störungen
      • Intensive Softwareschulung
      • Praktische Messungen im Applikationslabor
      • Troubleshooting, Wartungshinweise

      Alle weiteren Informationen und Preise finden Sie in unserem Seminarplan ».


      Anmeldung

    • Kompaktseminar ICP-MS (3 Tage) | Anwenderseminare
      Termin:4. bis 6. April 2017
      Ort:Jena/Deutschland | Analytik Jena AG
      Infos:

      Anmeldeschluss: 21.03.2017

      • Theorie der ICP-MS
      • Instrument-Überblick
      • Tuning und Optimierung des ICP-MS
      • Methodenentwicklung
      • Probenvorbereitung
      • Datenaufnahme und -auswertung
      • Wartung und Pflege des Systems
      • Praktische Messungen am Gerät

      Das dreitägige Kompaktseminar richtet sich an Anwender von ICP-MS-Gerätesystemen der Firmen Analytik Jena AG, Varian und Bruker.

      Alle weiteren Informationen und Preise finden Sie in unserem Seminarplan ».


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