PlasmaQuant® MS — hocheffiziente ReflexION-Ionenoptik für das ICP-MS von Analytik Jena

18.11.2015 | Produktinformation

Die ausgezeichnete Leistungsfähigkeit des PlasmaQuant® MS folgt aus der Synergie von innovativen Technologien, ausgehend von dem innovativen Plasma-System über das Zwei-Konen Interface zum ReflexION mit effizienter, dreidimensionaler Fokussierung der Ionen in den HD-Quadrupol. Daraus resultiert das empfindlichste ICP-MS auf dem Markt. Gleichzeitig werden durch eine effektive Abtrennung von Photonen und neutralen Teilchen der unspezifische Untergrund auf <1 count pro Sekunde reduziert und niedrigste Nachweisgrenzen erreicht.

Die Ionenoptik vereint den ReflexION-Ionenspiegel und ein Set von Extraktionslinsen zur perfekten Bündelung des Ionenstrahls auf den Ionenspiegel. Dieser reflektiert die Analytionen mittels eines parabolisch geformten, elektrostatischen Feldes um 90° auf die Eintrittslinse zum Vorquadrupol. Photonen und neutrale Teilchen passieren unbeeinflusst von diesem Feld die Hohlkonstruktion des ReflexION und werden durch das Vakuumsystem aus dem Spektrometer entfernt. Die Reflexion des Ionenstrahls ermöglicht eine dreidimensionale Kontrolle des Fokuspunktes gegenüber der Eintrittslinse. Damit kann die Empfindlichkeitscharakteristik des Massenspektrometers optimiert werden. Die intuitive ASpect MS-Software erlaubt eine automatische, nutzerspezifische Einstellung aller Parameter.

  • Effiziente Extraktion der Analytionen aus dem Interface
  • Reflexion des Ionenstrahls mit 3-D-Kontrolle des Fokuspunktes
  • Effektive Abtrennung von Photonen und neutralen Teilchen
  • Optimales Signal-zu-Untergrund Verhältnis durch 90° Ablenkung
  • Automatische, nutzerspezifische Optimierung aller Parameter
  • Robuster und wartungsfreier Aufbau

PlasmaQuant® MS und PlasmaQuant® MS Elite


Kontakt

Dana Schmidt
Pressesprecherin
+49 (0) 36 41  77-92 81presse@analytik-jena.de

Kontaktaufnahme